Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機(jī)配合使用泰克RSA306B實(shí)時(shí)便攜式頻譜分析儀。
Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機(jī)配合使用泰克RSA306B實(shí)時(shí)便攜式頻譜分析儀。
客戶(hù)解決方案總結(jié)
挑戰(zhàn)：
Eggtronic公司在對(duì)其設(shè)計(jì)布局的EMI發(fā)射行為進(jìn)行建模以?xún)?yōu)化設(shè)計(jì)布局方面面臨挑戰(zhàn)。在電路板上應(yīng)用正確的去耦電容器的影響嚴(yán)格取決于此。這需要大量的建模和重新測(cè)試，測(cè)試時(shí)間也在迅速增長(zhǎng)，設(shè)計(jì)成本也在不斷增加。
解決方案：
Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機(jī)配合使用泰克RSA306B實(shí)時(shí)便攜式頻譜分析儀。
效益：
Detectus 3D掃描機(jī)允許對(duì)電路板電磁輻射進(jìn)行高分辨率的3D建模；Tektronix RSA306B頻譜分析儀的組合實(shí)現(xiàn)了極快的掃描程序，而不會(huì)影響頻率掃描范圍和頻率分辨率
設(shè)計(jì)工程師要解決的一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題是洞察其設(shè)計(jì)的電磁性能，以便遵守符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，了解輻射和潛在干擾。這對(duì)于開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)和AC/DC和DC/DC轉(zhuǎn)換器尤其適用。
隨著寬帶隙器件的廣泛采用（如GaN和SiC），電源正轉(zhuǎn)向更快的高壓和大電流開(kāi)關(guān)波形，這些波形在傳導(dǎo)和輻射發(fā)射中產(chǎn)生電磁干擾（EMI）。
? 工程師如何將EMI輻射抑制在標(biāo)準(zhǔn)可接受限制值以下？
? 他們?nèi)绾巫C明他們的設(shè)計(jì)技術(shù)是有效的？
? 他們?nèi)绾握业讲⒘私庠肼曉矗ɡ纾粌H定位噪聲源，而且識(shí)別設(shè)計(jì)板上發(fā)生的所有耦合機(jī)制）？
? 寄生電容和電流回路將如何改變電路設(shè)計(jì)圖?
? 工程師如何知道他們的修正是否有效？他們?nèi)绾巫C明選擇的去耦電容器的尺寸是正確的？他們?nèi)绾螠y(cè)試自己設(shè)計(jì)的電感既有效又不影響電路板的關(guān)鍵區(qū)域
圖1. 從Pendulum EMC掃描儀應(yīng)用軟件獲得的重疊三維輻射圖
圖2. EMC掃描儀移動(dòng)近場(chǎng)探頭對(duì)貼近被測(cè)物表面等距進(jìn)行3D3D輻射掃描
意大利Eggtronic公司是一家致力于創(chuàng)新電力電子解決方案的高新企業(yè)，所有類(lèi)似企業(yè)中的設(shè)計(jì)工程師每天都要處理這一類(lèi)問(wèn)題。
Eggtronic的首席技術(shù)官恩里科?丹特(Enrico Dente)表示，EMC是開(kāi)關(guān)電力電子新設(shè)計(jì)面臨的主要挑戰(zhàn)之一。
圖3. 泰克RSA306B是處理采集數(shù)據(jù)的核心頻譜分析系統(tǒng)
“我非常熱衷于使用Pendulum提供的先進(jìn)3D EMI測(cè)量技術(shù)來(lái)測(cè)試我們最新的實(shí)驗(yàn)室原型機(jī)。我們測(cè)試的電路板是一種隔離的AC-DC變換器，基于Eggtronic的無(wú)變壓器專(zhuān)利技術(shù)，在MHz頻率以上有效工作，這要?dú)w功于GaN器件和我們專(zhuān)有的電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。通過(guò)分析使用EMCEMC電磁兼容3D掃描儀測(cè)量分析3D掃描儀測(cè)量分析，我們可以深入了解在哪些頻率和哪些位置有EMI干擾，我們可以在EMI排放方面改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)。”
“很明顯，測(cè)量工程師很清楚需要進(jìn)行3D EMC掃描，以便在空間中繪制出電感周?chē)椛涓蓴_的區(qū)域。3D掃描可以可視化顯示整個(gè)輻射路徑的關(guān)鍵臨界頻率，并評(píng)估使用正確的去耦電容器來(lái)消除影響?！?里科?丹特(Enrico Dente)說(shuō)道。
他們目前使用Pendulum EMC 3D掃描儀掃描儀與Tektronix RSA306B實(shí)時(shí)便攜式頻譜分析儀相結(jié)合的解決方案。
客戶(hù)需要以1mm甚至0.1mm的空間分辨率進(jìn)行重復(fù)的掃描測(cè)量。根據(jù)使用的頻率掃描范圍和分辨率頻率，在一個(gè)相對(duì)較大的板上運(yùn)行這些測(cè)試是非常耗時(shí)的
“如果用普通的頻譜分析儀進(jìn)行的每一項(xiàng)測(cè)試都有持續(xù)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)的風(fēng)險(xiǎn)。對(duì)于電路板的每一點(diǎn)分析，都需要在整個(gè)頻譜上完成采集，并將采集的數(shù)據(jù)傳輸?shù)焦P記本電腦上進(jìn)行處理，”Enrico Dente說(shuō)。
“為了避免長(zhǎng)時(shí)間采集，最好的配套頻譜分析儀是泰克公司的RSA306B頻譜分析儀。該儀器非常靈活，體積小，成本合理，但其真正的優(yōu)點(diǎn)是實(shí)時(shí)采集速度快。這允許快速收集數(shù)據(jù)，以便在合理的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行全面掃描，并在必要時(shí)進(jìn)行重復(fù)掃描，以便立即看到我們?cè)O(shè)計(jì)修正的效果?！?Enrico Dente說(shuō)
據(jù)Pendulum首席技術(shù)官Jan Eriksson介紹，泰克RSA306B可以無(wú)縫集成到他們的3D掃描系統(tǒng)中?！凹词乖谝蟮姆直媛蕩捄苄〉那闆r下，它在大頻率范圍內(nèi)的掃描時(shí)也是快速和可靠的。這使得我們的客戶(hù)可以在最小化3D掃描的測(cè)試時(shí)間與任何頻率掃描分辨率方面達(dá)到平衡。這也縮短了測(cè)量時(shí)間，并為分析獲得的數(shù)據(jù)留出了更多的時(shí)間。
