KC- 3105 功率半導(dǎo)體器件動態(tài)可靠性 HTRB/DHTRB測試系統(tǒng)
02月29日
現(xiàn)代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關(guān)晶體管速度越來越快，使得測量和表征成為相當(dāng)大的挑戰(zhàn)。與 HTRB高溫偏置試驗(yàn)一 一對應(yīng)，AQG324 該規(guī)定了動態(tài)偏置試驗(yàn)，即動態(tài)高溫反偏（DHRB，Dynamic high-temperature reverse bias）
