現(xiàn)代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關(guān)晶體管速度越來(lái)越快，使得測(cè)量和表征成為相當(dāng)大的挑戰(zhàn)。汽車功率模塊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)AQG 324特別突出了功率循環(huán)試驗(yàn)，在整個(gè)SiC-MOSFET壽命試驗(yàn)相關(guān)內(nèi)容中，功率循環(huán)試驗(yàn)不僅被列為首項(xiàng)， 且占據(jù)的篇幅超過(guò)其他所有試驗(yàn)項(xiàng)目之和。金凱博KC-3130測(cè)試系統(tǒng)是多功能功率半導(dǎo)體器件熱學(xué)特性測(cè)試設(shè)備。主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒級(jí)功率循環(huán)（PCsec）、分鐘級(jí)功率循環(huán)（PCmin）、熱阻（抗）測(cè)試（Rth/Zth）和 K 曲線測(cè)試（TSP-Vpn）。整體架構(gòu)模塊化，通訊協(xié)議、通訊接口等采用統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，便于后期擴(kuò)展和維護(hù)。 在保證系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的同時(shí)，可快速滿足功率半導(dǎo)體可靠性測(cè)試需求。
參考標(biāo)準(zhǔn) JEDEC、MIL-STD-750E、GJB128A、AEC-Q101、IEC60747- 2/6 ch. IV、IEC60747-9、JESD51-14
特點(diǎn)
金凱博KC-3130功率循環(huán)&熱特性智能檢測(cè)系統(tǒng)包含：
硬件平臺(tái)+實(shí)時(shí)軟件
其中硬件平臺(tái)包含 ：
FTG 大電流電源、水冷（油冷）夾具平臺(tái)、FTL恒流源、測(cè)量采集控制模塊等。
主要特點(diǎn)如下:
分鐘級(jí)/秒級(jí)功率循環(huán)：通過(guò)配套水循環(huán)控制，本系統(tǒng)可兼容分鐘級(jí) 和秒級(jí)（最低0.5S）的Power Cycling試驗(yàn)
可配置包括功率循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備&K系數(shù)測(cè)試儀，相互獨(dú)立的雙系統(tǒng)，同 時(shí)測(cè)試，互不影響；
單平臺(tái)配置2000A恒流源，并聯(lián)使用電源時(shí)，單平臺(tái)最大可達(dá)6000A；
可測(cè)試IGBT/MOSFET/Diode等器件；
使用瞬態(tài)雙界面測(cè)試法獲取不同時(shí)刻下的瞬態(tài)熱阻抗曲線，通過(guò)算法 得到連續(xù)時(shí)間頻譜函數(shù)R(Z)和結(jié)構(gòu)函數(shù)，得出熱阻值
互補(bǔ)輸出：提高測(cè)試樣品數(shù)量；柵極漏電流監(jiān)測(cè)：失效預(yù)測(cè)
軟件界面
金凱博KC-3130功率循環(huán)&熱特性智能檢測(cè)系統(tǒng)軟件功能完備并高可擴(kuò)展性，基于LINUX平臺(tái)開發(fā)，穩(wěn)定高效、配備工控機(jī)。保存與記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù)，漏電流、溫度、故障信號(hào)、工作時(shí)長(zhǎng)、漏源電壓變化率等。
金凱博KC-3130功率循環(huán)&熱特性智能檢測(cè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理功能完整，具有操作界面與上位機(jī)，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)保存與生成測(cè)試報(bào)告。
產(chǎn)品性能
測(cè)試精度
恒溫系統(tǒng)溫控精度:±0.5℃;
恒溫板 A/B:溫控精度為±0.5℃，分辨率01℃，溫控范圍:10-60C;
恒溫板C:溫控精度為士0.5℃，分辨率0.1℃，溫控范圍:-35-200C;
導(dǎo)通壓降測(cè)量精度:土150uV;
結(jié)溫測(cè)試精度:±2℃;
冷板及殼溫測(cè)試精度:≤2℃;
柵極電流檢測(cè):范圍0.1nA-10000nA;分辨率15pA;
測(cè)試容量與其他
PCsec/PCmin最多可測(cè)試8只樣品
Zth/Rth/Kcurve每次只能測(cè)試1只樣品
設(shè)備配有 3D 自由夾具，方便常見封裝形式的安裝固定支持恒電流模式、恒結(jié)溫模式、恒功率模式支持SECS/GEM協(xié)議遠(yuǎn)程監(jiān)控試驗(yàn)
超大功率水冷箱一臺(tái)
進(jìn)口高精度水冷箱一臺(tái)
